掲載日：2026.10.27
高温と低温の2系統を一体化したシステムにより、一つの試験槽内で-40℃〜+250℃の試験が可能
エスペックサーマルテックシステム/ESPEC 広温度レンジ試験装置
-40℃から+250℃まで、一つの試験槽で
SiC(炭化ケイ素)チップは175〜200℃程度の環境でも動作が可能なため、より高温下での試験が重要になっています。
エスペックサーマルテックシステムの「広温度レンジ試験装置」は、高温用・低温用の2系統を一体化し、一つの試験槽内で-40℃から+250℃までの試験を実現します。
広温度レンジ試験装置とは
高温と低温の2系統を一体化したシステムにより、一つの試験槽内で-40℃〜+250℃の試験が可能です。太陽光発電・蓄電システム、データセンター、航空宇宙・防衛、鉄道、送配電・電力インフラ関連で、SiC製品やパワー半導体の評価に最適な装置です。
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主な特長
1. ハイブリッド環境試験システムで、広温度レンジの試験に対応
通常の環境試験器では、低温域と200℃を超える高温域にまたがる試験はできません。高温側の空気が冷凍回路に悪影響を及ぼすためです。本試験システムは、高温と低温がそれぞれ独立した供給系統となっているため、その心配はありません。
2. 高温⇔低温の切り替え時も、強いストレスを与えません
供給風量を一定以下に抑えているため、高温⇔低温の切り替え時にも、冷熱衝撃試験装置のような強いストレスは与えません。
3. 供給方法を自由に選択、外部からの設定も可能
高温・低温の交互供給や、高温のみ、低温のみの供給も可能です。これらはすべて自動で行えます。EthernetポートやRS-485などの通信機能を使って、外部から設定することもできます。
4. 接続ダクトの取り扱いに配慮
耐熱ダクトを装備しますが、重量が増えるため、配管および移動用の架台を用意します。
