電子制御国際/ECG-KOKUSAI　インパルス巻線試験機 DWITシリーズ（DWIT-05、DWIT-05PD）

DWITシリーズは、これまでのインパルス巻線試験機 “DWXシリーズ“ で培われた技術・性能・信頼性を継承しつつ、さらなる性能向上を追及しました。高精度且つ、多彩な機能と多様な拡張性、操作性の向上、充実の外部通信インターフェースなどを盛り込んだ新たなインパルス巻線試験機にとなっております。

DWITシリーズの詳細はこちらのカタログ（PDF）をご覧ください。

製品紹介動画

主な特長

• 12bit分解能×300MHzサンプリング

高分解能・高速サンプリングADC回路により、より高精細な波形取得が可能となりました。最大16384ポイントのメモリにより、波形の乱れや部分放電ノイズを確実に補足し、試験後に波形の拡大表示が可能。カーソルにより、波形の立ち上がり時間やパルス幅、ピーク電圧の確認が行えます。

• データベース管理で検査工程を見える化

マスタ波形, 判定条件, 試験結果(試験波形および判定値)を本体内蔵のデータベースに保存します。SQLクライアントソフトを利用してパソコン上からリモートで閲覧することができます。また、試験結果を合否別, 日時別に検索することができ、NG発生率など分析において役立ちます。

• 豊富な追加オプション

PD（部分放電）検出アンテナ / 3ch+GND内蔵切換回路 / 4端子測定回路 / 印加エネルギー増設 / 電流測定 など豊富な追加機能を用意。（※機能によっては同時搭載できないものがあります。）

• うれしい機能

10.1インチカラーTFT液晶タッチパネルによる操作性向上
スクリーンショットの外部メモリ（USB、SD）保存
マスタ波形の ［平均化 / 合成 / 試験波形］による作成

DWIT-05の新モード

• Aging Test（連続印可）モード

任意の時間又は回数による連続印可機能を搭載しました。インパルス電圧の長時間連続印可による試料の劣化の評価に使用します。また、オプションのPDセンターを追加することにより放電発生までの時間（回数）などを観測することができます。

• Test Resultモード

試験結果の数値を本体メモリに保存。またOK・NGやNG判定となった試験項目の回数をグラフや数値で表示します。さらに過去1000回分のインパルス試験の試験画面を保存し、レビュー可能です。

 

絶縁破壊電圧試験（Break Down Voltage Test）

オプションのPDアンテナを追加すれば、PDIV test(部分放電開始電圧), RPDIV test(繰り返し部分放電開始電圧), PDEV test(部分放電消滅電圧), RPDEV test(繰り返し部分放電消滅電圧)のIEC60034-18-41、IEC61934規格に準拠した部分放電試験が行えます。

新しい試験項目を追加！

試験対象の特性を示す新たな指標を導入、実測値の測定

1.Frequency判定

共振周波数fによる判定
自己共振波形の周期を測定し、その平均から周波数を算出します。
試験対象のインピーダンス成分およびコンデンサ成分の変化あるいは、損失によって周波数変化が表れます。

2.Logarithmic decrement判定

対数減衰率σによる判定
自己共振波形の振幅を測定し、その平均から対数減衰率を算出します。
試験対象のインダクタンスおよびコンデンサの変化あるいは、損失によって波形の減衰に変化が表れます。

3.VPeak stability判定

共振波形のピーク電圧Vによる判定
自己共振波形のピーク電圧値から、振幅の強さを測定します。
ピーク電圧は波形の歪みや放電による乱れによって変化する為、試験対象に生じた損失が表れます。

4.Qdmp 判定

同一共振周期の面積比較 による判定
マスタ波形をもとに設定範囲内の周期を計算し、マスタ波形とテスト波形の同一区間 の周期における面積比較を行い、良否を判定します。時間軸方向（左右）にズレが合った場合でも、コイルの持つ共振波形の大きさを比較することができる点が特徴です。

「3ch＋GND切換回路」オプションについて

1度の接続で3相＋GNDまで全相自動試験！
従来のワニ口クリップ2個による相間（U-V/V-W/W-U）や対地（U-VWE等）測定ごとの付け替え作業をゼロに。リード線3本の3相コイルでも、最初の1回接続するだけで、内部リレーが回路を自動切替。相間からGND（対地）間のインパルス試験・絶縁評価まで一括完了します。

• 付け替え不要でタクトタイム大幅短縮
• 接続ミス・接触不良リスクを極小化
• 検査工程の全自動化・省力化に貢献