掲載日:2026.3.18
「可視化のための準備」に時間をかけない 。現場を稼働させたまま、リアルタイムで異物発生源を特定
明るい現場のまま0.3μmの挙動を確実に可視化
カトウ光研 「見る」から「分析する」へ。リアルタイム粒子カウントが、歩留まり改善の確かな根拠を提示「Particle Viewer PV2 series」

見えないリスクを、確かなデータへ。0.3μmの極微細粒子を逃さない、高精度レーザー可視化の頂点。
「Particle Viewer PV2 series」は、業界で初めて赤色半導体レーザーを採用した、次世代の微粒子可視化システムです 。
従来の技術では捉えきれなかった 0.3μm クラスの超微細粒子を高精度に可視化 。
室内照明の波長とは異なる赤色半導体レーザー(638nm)を使用することで、照明を消せない環境や背景が明るい場所でも、粒子像を鮮明に浮き彫りにします 。
単に「見る」だけではなく、リアルタイムの画像処理や粒子数のカウント・グラフ化まで対応し、
研究開発から製造現場の異物混入対策まで、微粒子管理の新たなスタンダードにしていきます。
ISO14644-17 規格対応
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主な特長
- 【究極の感度】0.3μm の超微細粒子を鮮明に可視化
信頼性の高い赤色半導体レーザーを光源に採用し、カメラの感度特性に最適化することで、飛躍的な可視化性能を実現しました 。
クラス1000の環境で浮遊する 0.3μmの粒子を捉えるなど、高度なクリーン管理が求められる現場で威力を発揮します 。 - 【現場主義】室内灯下でも背景と同化させない高い視認性
室内照明(460〜580nm)の影響をフィルタでカットできるため、明るい環境下や白い壁の前でも、確実に撮影が可能です 。
生産ラインを止めたり、暗室を構築したりする手間を最小限に抑え、スムーズな検証をサポートします 。 - 【高度な解析】リアルタイム処理と粒子カウントによる見える化
粒子の動きを追う「軌跡モード」や、見えにくい粒子をクリアにする「強調モード」など、多彩な画像処理をリアルタイムで実行できます。
撮影した粒子を自動カウントし、時系列グラフで表示可能 。
発塵のタイミングを定量的に特定し、改善の根拠となるデータを提供します 。
製品パンフレットはこちらから ※『0.1μm』とありますが、正しくは『0.3μm』です。
https://www.hodaka.co.jp/hodaka-cms/wp-content/uploads/2026/03/Particle-Viewer-PV2-series.pdf
