掲載日：2025.10.28
分光検出器による高速多波長スペクトル測定と広範囲なリタデーション測定
大塚電子株式会社 リタデーション測定装置 RETS-100nx
OLED用偏光板、積層位相差フィルム、IPS液晶位相差フィルム付偏光板など、あらゆるフィルムに対応したリタデーション測定装置です。
超高Re.60000nmに対応の高速・高精度測定を実現し、フィルムの積層状態を“剥がさず、非破壊”で測定可能です。
さらに、操作面でもかんたんソフトウェアや、サンプルの置き直しによるズレに対応した補正機能を搭載し、手軽に高精度な測定が可能です。
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主な特長
- 高速で多波長測定が可能
- 剥がさず非破壊で積層フィルムの測定が可能
- 任意波長での高精度リタデーション測定が可能
- 0 ～ 60000nmの幅広いリタデーション測定への対応が可能
- 傾斜回転ステージ（オプション）の選択で、三次元屈折率パラメータ（Rth）解析が可能
- 軸角度補正機能（オプション）で手軽に再現性良く測定が可能。
