掲載日：2025.10.28
光学フィルムの全幅・全長膜厚測定を実現するラインスキャン膜厚計
大塚電子株式会社 ラインスキャン膜厚計®
フィルムの研究開発および生産現場において、膜厚を全幅・全長測定できる装置です。
大塚電子(株)が独自の分光干渉法に、新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせることで、最短0.001秒毎の測定間隔で500mm幅（1台使用時）のフィルムの膜厚測定が可能です。
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主な特長
- ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現
- 検量線不要で高速・高精度に測定が可能
- バタつきに強い光学系を採用
- 幅広のサンプル対応可能（TD方向に最大10m測定可能）
- ハード・ソフト共にオリジナル設計
- 膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート
