掲載日：2021.1.14
光学像から電子顕微鏡像の観察、元素分析まで高い操作の壁を破る
日本電子/JEOL JCM-7000 NeoScope™ 卓上走査電子顕微鏡
日本電子株式会社のJCM-7000 NeoScope™は「誰でも走査電子顕微鏡（SEM）/ 元素分析装置（EDS）を操作できる」ことをコンセプトに開発された卓上走査電子顕微鏡です
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主な特長
走査電子顕微鏡は電機・電子、自動車・機械、化学・薬品を主体としたさまざまな分野で利用が広がっています。研究開発はもちろん、品質管理、物品検査といった製造現場と近接した職種で活用され、近年さらなる作業効率の向上、操作の簡便性、分析や計測性能の強化が求められています。
こうしたニーズに応え、ハイスループットで好評をいただいている当社InTouchScope™シリーズに準じた機能を搭載し、よりシンプルで使いやすいGUIによる操作性を実現、さらに設置スペースも節約した卓上走査電子顕微鏡を開発しました。
- 色情報が得られるCCD画像と表面詳細情報が得られるSEM像が連動するZeromag機能により素早く快適な視野探しが可能
- 軸モーターステージ（X,Y）により作業効率に優れモンタージュ撮像にも対応可能
- 観察中も常に元素分析結果が表示されるLive Analysis機能を搭載し、効率の良い元素分析が可能
- Live3D機能によりSEM観察しながらその場で３D像構築し凹凸・深さ情報の取得が可能
