Keysight/キーサイト・テクノロジー　【オンラインイベント】半導体パラメトリック・アナライザ　オンラインデモ週間のご案内

材料、半導体、デバイス特性評価等で頻繁に用いられる半導体パラメータアナライザですが、デバイスの高速化や微細化に伴い、従来のIV評価だけでなくCV評価、高速評価、信頼性評価等、様々な評価が求められるケースが増えてきました。また設備更新に当たって技術面、オペレーション面で種々お悩みを抱えられる方も少なくありません。
本イベントでは、マンツーマンのオンライン会議を通じて半導体測定のためのソリューション紹介と製品デモをご覧頂きます。設備更新の検討材料としてご活用ください。

■日程 ： 2026年1月26日（月）～1月30日（金）

■時間帯 ： 1日につき、3スロット （全15スロット）10:00-12:00、13:00-15:00、15:30-17:30

■会場 ： リモート会議にて開催　マンツーマンの会議形式で行います。

■参加費 ： 無料（事前登録制）

■お申し込み締め切り：1月20日（火）

■半導体パラメトリック・アナライザ　オンラインデモ週間の詳細、お申し込みはこちら