Keysight/キーサイト・テクノロジー　【オンラインイベント】半導体パラメトリック・アナライザ オンラインデモのご案内

材料、半導体、デバイス特性評価等で頻繁に用いられる半導体パラメータアナライザですが、デバイスの高速化や微細化に伴い、従来の IV 評価だけでなく CV 評価、高速評価、信頼性評価等、様々な評価が求められるケースが増えてきました。また設備更新に当たって技術面、オペレーション面で種々お悩みを抱えられる方も少なくありません。
本イベントではマンツーマンのオンライン会議を通じて半導体測定のためのソリューション紹介と製品デモをご覧頂きます。
設備更新の検討材料としてご活用ください。

 

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◆開催概要

日時	2025年10月14日(火) ～ 2025年10月20日(月) ① 10:00 – 12:00 ② 13:00 – 15:00 ③ 15:30 – 17:30 ※1 日につき 3 スロット(全 15 スロット) ：お好きな時間を選択ください。
会場	オンライン：マンツーマン会議形式で実施
参加費	無料（事前登録制）
お申し込み	フォームよりご登録ください。 https://forms.office.com/pages/responsepage.aspx?id=J19UYzIydE2kTc3UVwY0AtVTMGilZMJPi0lOa_ekW2lUQUdIMzU1WkpBNUdVWDlXWVhKRUNHQUg3VC4u&route=shorturl

 

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◆開催内容

• 半導体市場背景と最新測定情報
• キーサイト半導体ソリューションの紹介
• 【実演デモ】測定系構築におけるテクニック
  ・微小電流評価、CV 評価、Pulse 評価、
  ・制御ソフト EasyEXPERT を使った
  ・解析機能、データ管理機能、シーケンス構築機能など
• お悩み相談会
  講師： ソリューション営業本部 ソリューションエンジニア　半導体測定エキスパート 奥田裕司 氏

◆注意事項

講師は変更になる場合がございます。万が一、インターネット回線状況や設備機材の不具合により、開催を中止する場合があります。
また、競合他社様は、ご参加を遠慮いただく場合があります。あらかじめご了承ください。