大塚電子(株)分光全放射束測定システム(全光束測定システム)HM/FM series

掲載日:2018.10.16

大塚電子の光源・照明評価機器は、国内外の規格や技術基準に沿った評価装置を提案し、発光効率、演色性など、照明用光源や材料の性能や信頼性に対応する評価やソリューションを提案し続けております。-110℃から150℃まで対応したサンプルの温調やフラット発光面などの測定をより簡単に行える”積分半球”を採用したHMシリーズ、および、紫外~近赤外に対応かつ大型積分球を採用したFMシリーズから目的用途に合わせてお選びください。

「測定項目」

  • 全光束〔JIS C 7801:2009 / JIS C 8152:2007〕
  • 分光全放射束(スペクトル)
  • 等色標準偏差(SDCM)
  • 色度座標(u, v)〔CIE 1960UCS〕
  • 色度座標(x, y)〔JIS Z 8724:1997〕
  • 色度座標(u’, v’)〔CIE 1976UCS〕
  • 相関色温度とDuv〔JIS Z 8725:1999〕
  • 主波長(Dominant)と刺激純度(Purity)〔JIS Z 8701:1999〕
  • 演色性評価数(Ra, R1~R15)〔JIS Z 8726:1990〕

主な特長

LEDから照明まで幅広い光源の全光束を測定します。

[特長]

  • 220~1,600nmまでの分光放射束測定に対応
  • JIS C 7801:2009 / JIS C 8152:2007及びIESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム
  • 新型検出器の採用により、広ダイナミックレンジ測定が可能
  • 最大2400mmの直管形サンプルの全光束測定に対応可能
  • 測定部(積分球または積分半球)のサイズは、用途に応じてφ250mmからφ3000mmまでラインアップ
  • L-I-V測定、パルス点灯測定、サンプル温調測定(-110~150℃)に対応可能
  • パルス幅変調(PWM)調光に対応
  • 積分半球では測定精度も高く、サンプルセットも容易
  • ワットクラスのハイパワーレーザー光源の測定も対応

長年の実績から全光束測定のどんなシーンにも対応し、要求に合わせた測定システムをサポートします。

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